1、 Cu Mo双源 ，Cu靶，焦斑≤30 μm ，Mo靶，焦斑≤50 μm；
2、小角散射矢量Qmin<0.006 nm-1 ; 广角散射矢量Qmin<49 nm-1；
3、掠入射样品台、粉末/凝胶样品台、原位变温样品台（-150~350 ℃）、原位变温拉伸样品台(0~600 N)、原位低噪音流动样品池、毛细管流动样品池、剪切样品槽。
在透射或掠入射模式下进行小角/广角X射线散射，从而获得在纳米和介观尺度上材料的结构信息，如粒子形状和尺寸分布、分子量、孔径、结晶度、物相鉴定、取向分析、表面结构与散射图案、比面积分析，以及动态现场原位研究（温度、湿度、拉伸力、剪切应力）等，样品可以是溶液、胶体、粉末或固体。
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