分析测试中心的材料型冷冻透射电镜JEM-F200 (CF-CR)开始运行啦!
仪器放置地点：西部校区知远楼C108
仪器负责人：谢红波、赵凯、高晓霞
联系方式：0411-84706593
送样方式：仪器共享平台中搜索“材料型冷冻透射电镜”，预约送样测试，预约送样完成后等待电镜老师电话联系。有培训意向的同学请见后续通知，欢迎广大用户前来体验！
设备功能：
JEM-F200 (CF-CR)是一款材料型冷冻透射电镜，配备高亮度的冷场发射电子枪和冷冻极靴，具有TEM、PROBE、STEM、EDS等多种模式，具备原子级分辨能力，放大倍数20~150 M，可在冷冻或者常温条件下观察生物、化学、金属等材料的微观结构。
1. 高分辨率成像
配备先进的电子光学系统，可在冷冻条件下实现原子级分辨率成像，适用于观察纳米材料、晶体结构及生物大分子的精细结构。
2.冷冻样品分析
支持冷冻样品台（Cryo-Holder），可在低温（液氮温度，约-196 °C）下观察样品，有效减少电子束对样品的损伤，特别适合对电子束敏感的样品（如生物大分子、软材料等）。
3. 多种成像模式
支持多种成像模式，包括高分辨透射成像（HRTEM）、扫描透射成像（STEM）、衍射成像（SAED）等，满足不同研究需求。
4. 元素分析与成分表征
配备能谱仪（EDS），可进行元素成分分析，结合STEM模式实现纳米尺度下的元素分布。
5. 三维重构
支持电子断层扫描（Tomography），通过多角度成像实现样品的三维结构重构，适用于复杂材料结构和生物大分子的研究。
6. 低剂量成像
采用低剂量电子束技术，减少电子束对样品的损伤，特别适合观察易受辐射损伤的样品.
7. 冷场发射电子枪（CFEG）
采用冷场发射电子枪，提供高亮度、高相干性的电子束，显著提升成像分辨率和信噪比。
性能指标：
1. 电子枪类型：高亮度冷场发射电子枪；
2. TEM分辨率：点分辨率0.27 nm @200 kV；线分辨率0.14 nm @200 kV；信息分辨率0.13 nm @200 kV；
3.加速电压：20~200 kV；
4. STEM分辨率：明场分辨率0.19 nm @200 kV；暗场分辨率0.19 nm @200 kV；HAADF分辨率0.19 nm @200 kV；
5. 样品杆：双倾杆，冷冻样品杆，三维重构样品杆。
收费标准：
| 实验项目 | 校内 | 社会服务 | 其他说明 |
| 自主测试 | 480元/小时 | / | 1.校内冷冻样品1000元/小时(只接受送样)； 2.校外冷冻样品2000 元/样。 |
| 送样预约 | 600元/小时 | 1200元/样 |
分析测试中心
2025年04月22日
