分析测试中心的高分辨薄膜X射线衍射仪（SmartLab 9 kW）开始运行啦!
仪器放置地点：西部校区知远楼C111
仪器负责人：张环月、吕天明
联系方式：0411-84708258
送样方式：仪器共享平台中搜索 “高分辨薄膜X射线衍射仪”；预约送样测试，将样品送到知远楼C113人机分离室送样盒。
设备功能：
常规物相分析外，更适合纳米级薄膜样品测试，可进行面内、面外扫描和掠入射、二维测试、PHI扫描、XRR反射率测试，摇摆曲线、倒易空间等单晶外延膜高分辨测试；配有大五轴样品台，可放置多个样品进行织构分析。配有微区附件，可以进行微区物相分析。
性能指标：
1. Cu靶 9 kW；
2. 测角仪半径：300 mm；
3. 多维半导体面探测器：探测器面积：77.5 mm × 38.5 mm；
4. 微区测试系统，XY-4英寸样品台（X,Y±50 mm）光斑直径0.1 mm；
5. 五轴样品台Standard χ cradle；
6. IN-PLANE附件：可以同时进行面外扫描（OUT of PLANE）及面内扫描（IN-PLANE）测试；
7. 空气敏感样品架、零背景样品架；
8. XRR 软件、HRXRD软件、ODF软件。
样品要求：
1.粉末样品：研磨至<360目，手摸无颗粒感，约0.2克；
2.块状样品：测试面磨成平面，简单抛光，测试面大于10mm×10mm，高度＜10mm；
注：特殊样品测试前联系老师
收费标准：
| 实验项目 | 校内 | 社会服务 | 其他说明 |
| 自主测试 | 200元/小时，协助换光路和硬件加收100元/次 | / |
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| 委托测试 |
1. 常规测试 300元/小时； 2. GID、微区、XRR、Rocking Curve、2Theta/Omega扫描、Phi扫描、二维、RSM、织构、面内等测试，400元/小时。 | 1. 常规测试 500元/小时； 2. GID、微区、XRR、Rocking Curve、2Theta/Omega扫描、Phi扫描、二维、RSM、织构、面内等测试，600元/小时。 |
分析测试中心
2025年05月30日
