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通知公告

双球差校正透射电子显微镜(Spectra Ultra)试运行通知

2025-06-30  点击:[]



分析测试中心的双球差校正透射电子显微镜(Spectra Ultra)开始试行啦!

试运行时间:2025.05.27~2025.12.31

仪器放置地点:西部校区知远楼C101

仪器负责人:谢红波、林华、高晓霞

联系方式:0411-84706995、0411-84706593

送样方式:仪器共享平台中搜索 “双球差校正透射电子显微镜”,预约送样测试,预约送样完成后等待电镜老师电话联系。


设备功能:

Spectra Ultra球差校正透射电镜是尖端材料与生命科学研究的旗舰设备,具备亚埃级(<0.5 Å)分辨率,可清晰解析原子排列、缺陷及轻元素分布。其新一代球差校正器与单色化电子枪协同提升成像对比度,适用于敏感材料(如分子筛、MOF/COF、二维材料、电池电极)的原子尺度表征。集成STEM-HAADF、EELS和EDS,实现成分、电子结构及化学键合的同步分析,而高速电子直读相机兼顾低剂量成像与动态观测。Spectra Ultra以超高分辨率、多模态分析和智能化操作,成为能源、半导体及纳米科技研究的理想工具。


性能指标:        

1. 超亮电子枪和超级单色器,能量分辨率可以达到0.025 eV@60 kV,提供300 kV、200 kV、60 kV和30 kV四个加速电压下的光路和球差校正预合轴设置;

2. TEM信息分辨率≤60 pm@300 kV,<80 pm @200 kV,<100 pm @60 kV;

3. STEM扫描成像系统:STEM分辨率<50pm @300 kV,<70 pm @200 kV,<96 pm @60 kV,<136 pm @30 kV;

4. 配备HAADF 探头和轴向与径向 16 分割 Panther STEM探测器,可采集明场(BF)、环形明场(ABF)、环形暗场(ADF)、低角环形暗场(LAADF)、高角环形暗场(HAADF)以及 DPC和iDPC 信号。可同时采集4幅来自不同角度的电子信号,可在纳米束和微米束两种模式下进行 STEM 成像;

5. 具备差分相位衬度成像(DPC,iDPC)的探头及其配套数据采集和分析软件,可以在低束流的情况下对易损伤样品的轻重元素同时成像;

6. EDS能谱:配有固体角> 4.0 sr的EDS 能谱,元素分析范围:从B(5)- Am(95),能量分辨率<136>1500 kcps,峰背比>2500:1 @Ni K peak,能够实现极低束流下的原子级元素面分析观察,并能完成能谱三维重构分析;

7. 配备最新一代的电子能量损失谱仪系统,通过对不同能量损失的电子进行谱学分析,对材料的元素分布、化学价态、电子结构等信息进行表征。配备K3电子直读相机,能量分辨率≤0.1 eV,EDS与 EELS 高速同步,能够高速同步采集 EDS 能谱及 EELS 谱;

8. 样品台和样品杆:五轴增强型压电陶瓷样品台,可存储和复位五维(X,Y,Z,a,b)坐标,X/Y/Z 三个方向配有压电陶瓷控制器,样品移动范围:X/Y>1 mm,Z> 0.375 mm。配备Ultra-X样品杆2根,最大倾斜角度:35°(a)/30°(b);

9. 相机:配备底部一体化安装的CMOS相机Ceta S,尺寸:4,096x4,096,像素>14 umx14 um,读取速度>40 fps@4kx4k,>300 fps @512x512,动态范围:16bit;

10. 三维重构:自动化数据收集系统和电子断层扫描技术,可自动采集 TEM、STEM、EDX 三维图像,最大倾转角度士70°,配备线下TEM、STEM、EDX 三维重构软件和数据处理系统;

11. 11. 其他功能:原位加热,自动三维重构,旋进电子衍射,4D-STEM。



收费标准:


实验项目校内社会服务其他说明
TEM+STEM+EDS模块

1800元/小时

3600元/小时


STEM+EELS模块

      2400元/小时

     4800元/小时

注:试运行期间(至2025年年底)校内用户享受6折优惠,试运行推广期结束后第一年8折,第二年9折,第三年恢复原价。





分析测试中心

2025年06月30日


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