分析测试中心的聚光镜球差校正透射电子显微镜（JEM-ARM300F2）开始试运行啦!
试运行时间：2025.05.27~2025.12.31
仪器放置地点：西部校区知远楼C103
仪器负责人：谢红波、焦文娜、赵凯
联系方式：0411-84706995、0411-84706593
送样方式：仪器共享平台中搜索 “聚光镜球差校正透射电子显微镜”，预约送样测试，预约送样完成后等待电镜老师电话联系。
设备功能：
ARM300F2 是一台聚光镜球差校正透射电子显微镜，配备了冷场场发射电子枪（CFEG），电子能量分辨率优于 0.35 eV，亮度≥ 1×10⁹ A/cm²·srad，适用于高精度、高稳定性的微观结构分析。ARM300F2集成聚光镜球差校正系统（十二级子球差校正器），实现高分辨 STEM 成像能力：53 pm@300 kV、63 pm@200 kV、96 pm@80 kV、136 pm@40 kV。系统搭载 Gatan的Clear View相机，具备高分辨率与快速数据采集能力，支持高分辨原位动态观察。谱学系统配置 Gatan GIF Quantum 1065 EELS，能量分辨率优于 0.3 eV，支持电子能量损失谱（EELS）与边缘精细结构分析；配备双探头 EDS（2×159 mm²），固体角达 1.41 sr，显著提升元素探测效率。探测器系统包括多分割式 SAAF 全场探测器，支持 HAADF、BF、DF、ABF、SEI/BEI 等多种成像模式，兼容高角与低角散射需求。系统支持力-热-电耦合原位实验、三维重构及自动拼接功能，适用于材料结构演化、缺陷迁移、原位反应过程等研究。ARM300F2 广泛应用于材料科学、纳米技术、半导体器件、能源催化与生物医用材料等领域，是解析原子级结构、界面行为与成分分布的关键工具。
性能指标：
1. 冷场发射电子枪，电子束能量分辨率＜0.35 eV，提供300 kV 、120 kV、80kV、和40 kV两个加速电压下的光路和球差校正预合轴设置；
2. TEM信息分辨率：90 pm (300 kV)，120 pm (120 kV)；
3. STEM分辨率：53 pm (300 kV); 96 pm (80 kV); 82 pm (120 kV)，136 pm (40 kV); 背散射电子分辨率：1 nm; 具有HAADF、DF、BF、ABF、SEI、BEI、SAAF等多种STEM成像模式，各探头收集角单独可调，具有自动聚光镜球差校正功能；
4. 电子衍射包括SAED、NBD和CBED三种模式；标准相机长度80 mm-1500 mm范围；
5. EDS能谱：双探头，兼容原位分析，探测器的总有效面积316 mm2；
6. 配备最新一代的电子能量损失谱仪系统（Gatan 1065），通过对不同能量损失的电子进行谱学分析，对材料的元素分布、化学价态、电子结构等信息进行表征；
7. 样品台和样品杆：配备标准单倾样品杆、低背景双倾样品杆，高倾角三维重构样品杆；
8. 相机：配备底部安装高性能底插Gatan ClearView相机，具有原位成像功能；
9. 其他功能：力热电耦合原位测试，三维重构。
收费标准：
| 实验项目 | 校内 | 社会服务 | 其他说明 |
| TEM+STEM+EDS模块 | 1200元/小时 | 2400元/小时 |
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| STEM+EELS模块 | 1800元/小时 | 3600元/小时 |
注：试运行期间（至2025年年底）校内用户享受6折优惠，试运行推广期结束后第一年8折，第二年9折，第三年恢复原价。
分析测试中心
2025年06月30日
