200kV场发射透射电子显微镜（两台）-大连理工大学分析测试中心

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电镜分析平台

	规格型号	JEM-F200
	存放地	海映楼B105、B109
	仪器负责人	高晓霞、焦文娜、谢红波
	电话	0411-84707908、0411-84706593、0411-84706995
	预约网址	http://gxpt.dlut.edu.cn
性能指标	1. 工作电压：80 kV, 200 kV； 2. TEM点分辨率：0.23 nm，线分辨率0.10 nm； 3. STEM分辨率0.16 nm； 4. BEI分辨率：1 nm； 5. EDS 双能谱探头，支持EDS Mapping/Line/Point测试项目；能量分辨率：≤ 133 eV；元素分析范围：5B ~ 92U； 6. Gatan Oneview IS超快速CMOS相机； 7. 自动插入和拔出样品杆设置。
功能及应用	1. TEM模式: 形貌像、高分辨(HRTEM)、电子衍射(Diffraction)、明/暗场像(Bright/Dark Field Image)； 2. HAADF-STEM模式: 明/暗场(Bright/Dark Field Image)； 3. EDS 成分分析：点分析(Point analysis)、线分析(Line Scan)、面分析(Mapping)； 4. 热/电原位电镜样品杆； 5. 液体、电化学原位样品杆； 6. 三维重构样品杆。
样品要求	1. 粉末样品、液体样品需要制备到适合样品的有机碳膜铜网上；常见碳膜铜网有：连续碳膜、超薄碳膜、不连续碳膜（也叫微栅）；如果样品有磁性，请使用有碳膜的双联膜铜网。电镜测试时，只带载有样品的铜网。 2. 固体块材样品需要减薄到TEM测试要求，需要根据样品选择合适的减薄方法。
收费标准	实验项目	收费单位	校内	社会服务	其他收费
	委托测试	元/小时	600	1200元/样	参见预约平台详细要求
	自主测试	元/小时	480

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