材料型冷冻透射电镜

仪器负责人

谢红波、赵凯、高晓霞

电话

0411-84706593

启用时间

2025年4月

预约网址

http://gxpt.dlut.edu.cn

1. 电子枪类型：高亮度冷场发射电子枪；

2. TEM分辨率：点分辨率0.27 nm @200 kV；线分辨率0.14 nm @200 kV；信息分辨率0.13 nm @200 kV；

3.加速电压：20~200 kV；

4. STEM分辨率：明场分辨率0.19 nm @200 kV；暗场分辨率0.19 nm @200 kV；HAADF分辨率0.19 nm @200 kV;

5. 样品杆：双倾杆，冷冻样品杆，三维重构样品杆。

JEM-F200 (CF-CR)是一款材料型冷冻透射电镜，配备高亮度的冷场发射电子枪和冷冻极靴，具有TEM、PROBE、STEM、EDS等多种模式，具备原子级分辨能力，放大倍数20~150 M，可在冷冻或者常温条件下观察生物、化学、金属等材料的微观结构。

1. 高分辨率成像

配备先进的电子光学系统，可在冷冻条件下实现原子级分辨率成像，适用于观察纳米材料、晶体结构及生物大分子的精细结构。

2.冷冻样品分析

支持冷冻样品台（Cryo-Holder），可在低温（液氮温度，约-196 °C）下观察样品，有效减少电子束对样品的损伤，特别适合对电子束敏感的样品（如生物大分子、软材料等）。

3. 多种成像模式

支持多种成像模式，包括高分辨透射成像（HRTEM）、扫描透射成像（STEM）、衍射成像（SAED）等，满足不同研究需求。

4. 元素分析与成分表征

配备能谱仪（EDS），可进行元素成分分析，结合STEM模式实现纳米尺度下的元素分布。

5. 三维重构

支持电子断层扫描（Tomography），通过多角度成像实现样品的三维结构重构，适用于复杂材料结构和生物大分子的研究。

6. 低剂量成像

采用低剂量电子束技术，减少电子束对样品的损伤，特别适合观察易受辐射损伤的样品.

7. 冷场发射电子枪（CFEG）

采用冷场发射电子枪，提供高亮度、高相干性的电子束，显著提升成像分辨率和信噪比。

/

1.校内冷冻样品1000元/小时(只接受送样)；

2.校外冷冻样品2000元/样。