1. 高亮度冷场发射电子枪：8×10^8 A/cm^2/sr； 2. TEM分辨率： 点分辨率：≤0.27 nm@200 kV； 线分辨率：≤0.14 nm@200 kV； HAADF-STEM分辨率：≤0.19 nm @200 kV ； 3. HAADF-STEM分辨率：≤ 0.19 nm @200 kV ； 4. EDS：电制冷型探测器，面积100 mm^2；元素分析范围：5B ~ 92U； 5. 冷冻极靴+冷冻样品杆； 6. 样品快速冷冻装置，利用滤纸吸干法/载网投入法制备冷冻电镜样品，可以在天然含水环境中冷冻薄层样本，形成玻璃化状态，而不会形成冰晶； 7. 三维重构。 | 
