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电镜分析平台

FIB+TOF-SIMS 联用仪(预计2025.04运行)

2023-08-19  点击:[]



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规格型号SOLARIS
存放地
仪器负责人谢红波、万鹏、周雨萌
电话0411-84706995、0411-84709167
预约网址
性能指标

1. 液态金属Ga离子源,束流≥ 100 nA,实现大面积快速加工;

2. 优良的离子束分辨率: < 2.5 nm @ 30 kV ;

3. 二次电子极限分辨率: 0.6 nm @15 kV,0.9 nm @1 kV;

4. 配备Tofwerk高分辨飞行时间二次离子质谱仪,质谱分辨率≥800,质谱检出限≤3 ppm;

5. 配备牛津最新的EDSUltimMax170)和EBSDSymmetry S3)技术。

功能及应用

1. 集扫描成像(SEM),二次离子质谱分析(TOF-SIMS),能谱分析(EDS),电子背散射衍射分析( EBSD )和离子束微纳加工与一体。可进行固体材料的微纳米级加工,制备高质量透射电镜样品;

2. 可实现包括Li、H等元素在内的多元素高空间分辨率分布分析,检测限可达ppm级。

样品要求


收费标准实验项目收费单位校内社会服务其他说明












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