| 仪器名称 | 三离子束切割仪 |
| 规格型号 | Leica EM TIC3X |
| 仪器负责人 | 高晓霞 |
| 电话 | 84707908 |
| 主要功能 | 可制备横切面和抛光表面，用于SEM、 TEM、 EDS、WDS、Auger和AFM 等测试的样品前处理。 |
| 仪器名称 | 电解双喷减薄仪 |
| 规格型号 | TenuPol-5 |
| 仪器负责人 | 高晓霞 |
| 电话 | 84707908 |
| 主要功能 | 通过电解与抛光作用使金属样品发生减薄并穿孔，形成大面积薄区，主要用于TEM测试样品的终减薄。 |
| 仪器名称 | 多功能离子减薄仪 |
| 规格型号 | Leica EM RES200 |
| 仪器负责人 | 高晓霞 |
| 电话 | 84707908 |
| 主要功能 | 1、可实现大面积离子抛光或减薄，使样品具有轻薄、清洁、抛光、切割的坡度和结构；
2、可用于制备TEM、SEM和LM测试样品，且可采用低离子能量处理非常柔软的样品。 |
| 仪器名称 | 高真空镀膜仪 |
| 规格型号 | Leica EM ACE600 |
| 仪器负责人 | 周雨萌，万鹏 |
| 电话 | 84709167 |
| 主要功能 | 1、在非导电材料表面蒸发或者溅射沉积纳米导电薄膜，在很好保持样品原始的表面形貌基础上用来提高样品的表面导电性能；
2、高真空锻膜仪配备溅射锁金属和蒸发锁碳两种功能，搭配冷冻断裂样品台，实现低温锁膜及真空 传输功能。 |
| 仪器名称 | 低速切割机 |
| 规格型号 | Minitom |
| 仪器负责人 | 周雨萌 |
| 电话 | 84709167 |
| 主要功能 | 用于样品的切割。 |
| 仪器名称 | 精研一体机 |
| 规格型号 | Leica EM TXP |
| 仪器负责人 | 高晓霞 |
| 电话 | 84707908 |
| 主要功能 | 具有定点修块抛光功能，利用锯、磨、铣削、抛光的方法制备TEM、SEM和LM的测试样品。 |
| 仪器名称 | 手动磨样机 |
| 规格型号 | LaboSystem-LaboPol-20 |
| 仪器负责人 | 高晓霞 |
| 电话 | 84707908 |
| 主要功能 | 主要用于样件的磨削与抛光。 |
| 仪器名称 | 自动组织处理机 |
| 规格型号 | Leica EM TP |
| 仪器负责人 | 周雨萌 |
| 电话 | 84709167 |
| 主要功能 | 用于自动处理组织包埋。 |
