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电镜分析平台

FIB+TOF-SIMS 联用仪(预计2025.04运行)

2023-08-19  点击:[]



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规格型号 SOLARIS
存放地
仪器负责人 万鹏
电话 0411-84709167
预约网址
性能指标

1、束流可达100nA,实现大面积快速加工;

2、优良的离子束分辨率: < 2.5 nm @ 30 kV ;

3、二次电子极限分辨率: 0.6 nm @15 kV,0.9 nm @1 kV;

4、配备Tofwerk高分辨飞行时间二次离子质谱仪,质谱检出限<5 ppm;

5、配备大面积晶体能谱与高速EBSD。

功能及应用

1、可进行微纳米级加工,制备高质量透射电镜样品;

2、可实现包括Li,H等元素在内的多元素高空间分辨率分布分析,检测限可达ppm级。

样品要求


收费标准 实验项目 收费单位 校内 社会服务 其他说明












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